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EXFO WA-1100  光波長計

產(chǎn)品簡介：

Burleigh WA-1100光波長計采用基于邁克爾遜干涉計的W**波長計技術(shù)，通過將被測光信號的干涉條紋圖與內(nèi)置的HeNe激光波長標(biāo)準(zhǔn)相比較，確定被測光信號的絕對波長。

范圍:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。

準(zhǔn)確度:±1.5 pm。

顯示分辨率:0.001 nm。

絕對準(zhǔn)確度:±0.5 dB(1310和1550 nm處±30 nm處)。

功率分辨率:0.01 dB。功率線性:±0.3 dB。

功率顯示分辨率:0.01 dB。

光學(xué)輸入信號靈敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。最大輸入電平(所有線路的總和):+ 10 dBm (10 mW)。

測量周期:0.1秒(10次/秒)。

儀器接口:GPIB (IEEE-488.2)， RS-232, LabVIEW, LabWindows